掃描探針顯微鏡
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掃描探針顯微鏡(Scanning probe microscopy, SPM)是機械式地用探針在樣本上掃描移動以探測樣本影像的顯微鏡。其影像解析度主要取決於探針的大小〔通常在奈米的範圍〕。掃描隧道顯微鏡是第一個被發明的掃描探針顯微鏡〔1981年〕。
[编辑] 種類
- AFM, 原子力顯微鏡
- 接觸式
- 非接觸式
- 動態接觸式
- EFM, 靜電力顯微鏡
- KPFM,開爾文探針力顯微鏡
- MFM,磁力顯微鏡
- MRFM, 磁共振力顯微鏡
- NSOM, 近場光學掃描顯微鏡;SNOM,掃描近場光學顯微鏡
- PSTM,光子掃描隧道顯微鏡
- SCM,電容掃描顯微鏡
- SGM, 門掃描顯微鏡
- SThM, 熱掃描顯微鏡
- STM, 掃描隧道顯微鏡
- SVM, 掃描電壓顯微鏡
