自動光學檢查

自動光學檢查（英文：Automated Optical Inspection，簡稱AOI），為工業自動化有效的檢測方法，使用機器視覺做為檢測標準技術，大量應用於LCD/TFT、電晶體與PCB製程上。

AOI技術領域非常廣泛，廣義的AOI設備為結合光學感測系統、訊號處理系統及分析軟體，應用層面可包括宇宙探測、航空、衛星遙測、生物醫學、工業生產品質檢測、指紋比對、機器人控制、多媒體技術。

狹義的AOI設備則指目前工業上急需使用，在IC及一般電子業、機械工具/自動化機械、電機/電子工業、金屬鋼鐵業、食品加工/包裝業、紡織皮革工業、汽車工業、建築材料、保全/監視系統等。

[编辑] 基本架構

自動光學檢測設備

自動光學檢測設備組成

• CCD Camera(檢測鏡頭)
• 光源(上下光源打光)
• Review Camera(複檢確認鏡頭)
• 系統主機
  • 系統主機螢幕
• 瑕疵檢查主機
  • 瑕疵檢查主機螢幕
• 集線器(Hub)
• 伺服驅動機構
• PLC或PC Base控制主機

[编辑] 發展趨勢

• 技術規格

1. 完整行程須在60 秒內(甚至更短)
2. 影像解析度不斷提高
3. 可檢測出週邊線路(以往只需要檢測面板內部)
4. 可儲存面板的瑕疵影像
5. 自動分類瑕疵

• 設備功能

1. 可輸出分析表格與圖形
2. 可檢出Mura瑕疵功能
3. 可處理修補瑕疵功能

[编辑] 領導廠商

自動光學檢測設備的主要領導廠商有

• Orbotech
• Takano
• Kubotek
• V Technology

[编辑] 參考文獻

• 陳茂成，“從國際FPD 產業趨勢看國內發展商機與挑戰”，工研院IEK 產業情報網，2004 年12 月。
• 黃仲龍，“提昇LCD 設備自製率議題評析”，工研院IEK 產業情報網，2004 年11 月。
• 五十嵐大作，小田切章，久保哲夫， “The Latext Optical
• Inspection Equipment that influences the Yield of Large-screen,

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• 黃仲龍，“LCD 設備產業發展概況與發展機會”，機械工業雜誌，256 期，2004 年7 月。
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